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JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de mesa NeoScopeTM de la serie JCM-7000JEOL Ltd. (TOKIO: 6951) (www.jeol.com) (El presidente Gon-emon Kurihara) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesa, el NeoScopeTM de la serie JCM-7000, que se lanzará en marzo de 2019. Este comunicado de prensa trata sobre multimedia. Ver la noticia completa aquí: https://www.businesswire.com/news/home/20190311005829/es/ JCM-7000 NeoScope(TM) Benchtop Scanning Electron Microscope (Photo: Business Wire) Fundamentos de desarrollo del producto Los microscopios electrónicos de barrido de mesa se utilizan en una amplia gama de campos, como las industrias de la electricidad, automotriz, electrónica, de maquinarias, química y farmacéutica. Además, las aplicaciones de los SEM se están ampliando no solo para cubrir la investigación y el desarrollo, sino también para abordar el control de calidad y la inspección de productos en los sitios de fabricación. Con esto, aumenta la demanda de una mayor eficiencia en el trabajo, un funcionamiento mucho más rápido y sencillo y un mayor grado de capcidades de análisis y medición. Basado en el exitoso y galardonado predecesor de nuestros SEM de la serie InTouchScopeTM, hemos desarrollado un nuevo SEM de mesa, de la serie JCM-7000, para satisfacer esta creciente demanda en el mercado. La serie JCM-7000 incorpora funciones innovadoras que se comparan a las de la serie InTouchScopeTM. Entre las características de la serie JCM-7000, se incluyen 1) Interfaz gráfica de usuario (Graphic User Interface, GUI) simple para una alta operabilidad, 2) Tamaño pequeño, 3) Transición perfecta de imágenes de microscopio óptico a imágenes de SEM con la función "Zeromag", 4) Análisis elemental en tiempo real durante la observación de imágenes con la función "Live Analysis" (Análisis en vivo), y 5) Plataforma motorizada de dos ejes (X, Y) para un funcionamiento sin problemas. Además, la serie JCM-7000 viene con la función "Live 3D", que muestra simultáneamente una imagen de SEM en vivo y una imagen de superficie en 3D reconstruida en vivo. Además, esta nueva capacidad le permite adquirir información topográfica y detallada de la muestra, junto con información de las imágenes de SEM de la superficie de la muestra. Características principales
Objetivo anual de ventas de unidades
JEOL Ltd. El texto original en el idioma fuente de este comunicado es la versión oficial autorizada. Las traducciones solo se suministran como adaptación y deben cotejarse con el texto en el idioma fuente, que es la única versión del texto que tendrá un efecto legal.
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